哈佛附院冷库故障致自闭症研究拖慢
作者： 来源：科学网 日期：2012-06-15
导读
据香港《文汇报》6月13日报道，美国哈佛大学附属医院一个冷藏库出现故障，导致150个人脑样本腐烂变黑，其中逾1/3是自闭症患者捐赠的样本。据悉，该中心储存的自闭症患者脑样本为全球最多，此次意外或使得自闭症研究工作拖慢10年。
五月下旬哈佛脑组织资源中心发现故障冷藏库致脑样本受损
该中心储存的自闭症患者脑样本为全球最多，其中逾1/3是自闭症患者捐赠的样本
据香港《文汇报》6月13日报道，美国哈佛大学附属医院一个冷藏库出现故障，导致150个人脑样本腐烂变黑，其中逾1/3是自闭症患者捐赠的样本。
据报道，该事故发生在波士顿麦克莱恩医院的哈佛脑组织资源中心，上月底一名职员发现冷藏库失灵且没响警报。初步检查显示，受损的54个自闭症患者脑样本的脱氧核糖核酸（DNA）完好无缺，仍可作基因研究，但核糖核酸（RNA）则损毁，所以暂不清楚这些样本能否继续用于神经科学研究。
目前，医院正调查冷藏库温度突然升高以及两个警报系统没响起的原因。该中心主任贝内斯担心，该事件将使得鼓励人们捐赠人脑样本的工作越来越困难。
据悉，该中心储存的自闭症患者脑样本为全球最多，此次意外或使得自闭症研究工作拖慢10年。
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