植入式心血管电子设备相关感染升高死亡率
美国学者的一项研究表明，与植入式心血管电子设备（CIED）相关的感染可显著增加院内死亡率和远期死亡率，并且部分发生于出院后。论文于2011年9月12日在线发表于《内科学文献》（ArchIntern Med）。
美国学者的一项研究表明，与植入式心血管电子设备（CIED）相关的感染可显著增加院内死亡率和远期死亡率，并且部分发生于出院后。论文于2011年9月12日在线发表于《内科学文献》（ArchIntern Med）。
CIED治疗可降低发病率和死亡率，但CIED感染则可损害其获益。此项回顾性研究共纳入200219例因CIED置入、更换和调整而住院治疗的患者，并分析了感染相关性院内死亡率、远期死亡率、入院时间（LOS）和入院费用的危险校正总体情况和增量情况。
结果显示，共有5817例入院患者伴有感染。感染与校正院内死亡率（比值比4.8至7.7）和远期死亡率（比值比1.6至2.1）显著升高相关，并且与CIED类型无关。重要的是，约半数增量远期死亡发生在出院之后。伴发感染显著延长了校正LOS（平均比率2.5至4.0），并且与CIED类型无关。伴发感染时标准化校正增量和整体入院费用分别为14360～16498美元和28676～53349美元，并且与CIED类型无关。伴发感染的最大的增量费用为重症监护费用，其在相关差异中占40%以上份额。就伴发感染时校正远期死亡率和费用比率而言，起搏器显著高于植入式复律器/除颤器和心脏再同步治疗/除颤装置。
链接：
Mortality and Cost Associated With Cardiovascular Implantable Electronic Device Infections
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