CRT-D置入后远期不良事件发生率较高
意大利学者的一项研究表明，在当前的临床实践中，心室再同步心脏转复除颤器（CRT-D）置入后的装置相关性事件多于单腔或双腔起搏器植入后事件，前者进行手术修正的频率亦较高。
意大利学者的一项研究表明，在当前的临床实践中，心室再同步心脏转复除颤器（CRT-D）置入后的装置相关性事件多于单腔或双腔起搏器植入后事件，前者进行手术修正的频率亦较高。但此类事件与不良临床转归似乎无关。论文于2011年5月16日发表于《循环》（Circulation）杂志。
在接受CRT-D置入治疗的患者中，有关装置相关性不良事件的远期资料相当匮乏。此项研究从117个意大利中心中纳入了3253例首次接受CRT-D成功置入的患者，并对其进行了中位18个月的随访。
结果显示，共有416例患者报告出现装置相关性事件，其中有390例患者接受了手术干预治疗。置入装置4年后，分别有50%和14%的患者因电池耗竭和预期外事件而行手术修正。作为对照，在上述中心内接受单腔和双腔除颤器置入者的4年电池耗竭率分别为10%和13%，预期外事件报告率分别为4%和9%。在CRT-D治疗者中，感染发生率为1.0%/年，并且感染风险在装置更换操作后升高（危险比为2.04；P=0.045）。左心室导线脱位的发生率为2.3%/年，并且可由置入时荧光透视时间较长和起搏阈值较高进行预测。装置相关性事件与不良临床转归无相关性，接受和未接受手术修正患者的死亡风险基本相似（危险比0.90; P=0.682）。
原文链接：
Long-Term Complications Related to Biventricular Defibrillator Implantation
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